这 電子顯微鏡實驗室 配備 JEOL JSM-6500F 場發射掃描顯微鏡。 JSM-6500F 是一款高性能分析 FESEM，集成了 JEOL 的能量色散 X 射線分析儀，可實現簡單、快速的形態觀察和元素分析。
微量分析能力:
- 定性和半定量 EDX（檢測器分辨率 133 eV）快速分析允許在不到一分鐘的時間內識別相並估計其成分。
- 一種特殊的軟件（“分析站”）允許執行許多功能，例如圖像導航、元素映射、粒子分析和順序 EDX 光譜採集。
成像能力:
- 二次電子 (SEI)
- 背散射電子（BSE = COMPO 和 TOPO）
論文規範
